单偏光显微镜下的晶体光学性质

  所谓偏光显微镜，就是只用一个偏光显微镜(通常用下偏光显微镜)观察、侧定晶体的先学性质。晶体的某些特征，如形态、解理等，不用偏光显微镜也能观察，但用一个偏光显微镜也不影响其效果，所以通常仍在单偏光显微镜下进行观察。

  单偏光显微镜下能够观察、侧定的主要特征有以下三个方面:形态和解理;颜色和多色性;比较矿物折射率的相对高低等。

  一、晶体的形态

  矿物晶体的形态决定于它的化华成分、晶体结构和生成条件。每一种晶体都具有一定的形态。但在工艺岩石切片中所见的矿物形，并不是整个立体，而是一个切面。同一晶体由干切面方向不同，可以表现出各种不同形状。在实际工作中必须综合许多方向的切面，才能正确判断晶体的形态。伍在柱状、针状或板状晶体的切片中，近于纵切面和横切面的形状比较常见。

  二、解理及解理角的测定

  解理的观察

  许多矿物部具有解理，但解理的方向、组处及完善程度并非全同，所以解组是鉴定矿物的一个重要依据。同时，解理面还往往与晶面、晶轴有一定的关系，所以解理还可以作为测定矿物某些光学常数的辅助条件或根据。

  矿物的解理面在薄片中是一些平行的细线，称为解理缝。根据解理的完善提皮，一般分为以下三级:

  (1)极完善解理 解理缝细密而直长，如云母。

  (2)完善解理   解理缝虽清楚，但未完全联贯，如辉石、角闪石。

  (3)不完善解理 解理缝断断续续，有时仅见痕迹，如橄榄石。
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