Serdes误码仪
高速多通道误码仪/Serdes测试仪：
高速多通道Serdes测试仪，高速多通道误码测试仪(BERT)，Serdes测试仪，
支持各种不同的通道数（4通道，8通道，16通道，32通道）及速率（高可达56Gbaud for PAM4）的灵活配置. 支持Per Lane Jitter Injection，Per Lane Noise Injection，Per Lane Skew Control，Per Lane Voltage Control，Per Lane Clock Recovery等功能。
High speed multi-channel error code tester/Serdes tester:
High speed multi-channel Serdes tester, high-speed multi-channel error code tester (BERT), Serdes tester,
Supports flexible configuration of various channel numbers (4 channels, 8 channels, 16 channels, 32 channels) and speeds (up to 56Gbaud for PAM4) Supports functions such as Per Lane Jitter Injection, Per Lane Noise Injection, Per Lane Skew Control, Per Lane Voltage Control, and Per Lane Clock Recovery.
深圳市锐测电子科技（Reetest）专注于提供针对各种芯片总线接口协议/Serdes/器件/系统级产品从物理层至协议层的测试解决方案，覆盖R&D测试验证，RDT可靠性测试，芯片量产测试, AE/FAE等各个产品生命周期的测试。公司针对每一个产品线均有配备非常专业且富有经验的技术支持工程师提供local的产品
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支持各种不同的通道数（4通道，8通道，16通道，32通道）及速率（高可达56Gbaud for PAM4）的灵活配置. 支持Per Lane Jitter Injection，Per Lane Noise Injection，Per Lane Skew Control，Per Lane Voltage Control，Per Lane Clock Recovery等功能。
High speed multi-channel error code tester/Serdes tester:
High speed multi-channel Serdes tester, high-speed multi-channel error code tester (BERT), Serdes tester,
Supports flexible configuration of various channel numbers (4 channels, 8 channels, 16 channels, 32 channels) and speeds (up to 56Gbaud for PAM4) Supports functions such as Per Lane Jitter Injection, Per Lane Noise Injection, Per Lane Skew Control, Per Lane Voltage Control, and Per Lane Clock Recovery.
深圳市锐测电子科技（Reetest）专注于提供针对各种芯片总线接口协议/Serdes/器件/系统级产品从物理层至协议层的测试解决方案，覆盖R&D测试验证，RDT可靠性测试，芯片量产测试, AE/FAE等各个产品生命周期的测试。公司针对每一个产品线均有配备非常专业且富有经验的技术支持工程师提供local的产品
