沙井RS FSW8频谱与信号分析仪 2Hz到8GHz

沙井RS FSW8频谱与信号分析仪 2Hz到8GH
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全新高性能R&S FSW信号与频谱分析仪满足客户高性能需求，提供低相位噪声，宽分析带宽和直观性操作，使得测试工作快速简单。
主要特点
* 频率范围覆盖从2 Hz 至 8/13.6/26.5/43.5/50/67/85 GHz （加外部谐波混频器可扩展至110GHz）
* 相位噪声低至-137dBc/Hz@1GHz,10kHz频偏
* WCDMA 邻信道功率比测试-88dB动态范围(噪声功能打开)
* zui高2GHz分析带宽
* 8 GHz范围内低至0.4dB总测量不确定度
* 高分辨率的12.1寸触摸屏方便操作
* 支持多任务并行测量及显示
R&S FSW 频谱与信号分析仪，2Hz到8GHz
R&S FSW 频谱与信号分析仪，2Hz到13.6GHz
R&S FSW 频谱与信号分析仪，2Hz到26.5GHz
R&S FSW 频谱与信号分析仪，2Hz到43.5GHz
R&S FSW 频谱与信号分析仪，2Hz到50GHz
R&S FSW 频谱与信号分析仪，2Hz到67GHz
特点
射频性能满足苛刻需求
* 无与伦比的相位噪声 – 是雷达和通信应用振荡器测试的理想工具
振荡器，频率合成器和发射机系统的研发人员将从R&S?FSW突出的相位噪声测量动态范围性能中获益。在偏离载波中心频率10kHz位置，R&S?FSW相位噪声在1GHz中心频率处可达到-137dBc（1Hz），而在10GHz中心频率处可达到-128dBc（1Hz）。偏离载波中心频率100kHz位置，相位噪声在相同中心频率处分别为-110dBc（1Hz）和-90dBc（1Hz）. 在相位噪声性能上R&S?FSW超越前一代分析仪多达10dB。
相位噪声在1GHz中心频率，10kHz偏离处为 -137dBc（1Hz）
* 低显示平均噪声电平带来出色的杂散测试动态范围
显示平均噪声电平（DANL）在未使用预放大器条件下，2GHz频率处低至-159dBm（1Hz）而25GHz频率处低至-150dBm（1Hz）。R&S?FSW可在宽频率范围内提供快速而可靠的杂散测试。显示平均噪声电平可通过选择使用噪声功能而进一步改善13dB。用户可确认之前隐藏在噪底之下的极小杂散信号从而有效地优化发射机系统。
* 内置高通滤波器简化谐波测试
R&S?FSW可选配可切换使用的高通滤波器（R&S?FSW-B13）进行zui高频率至1.5GHz的发射机系统谐波测试。与传统的频谱分析仪相比可获得明显的动态范围改善。无需外部滤波器，可方便针对GSM, CDMA, WCDMA, LTE 和TETRA 系统进行测试系统的搭建。
* 低频段内提供高选择性
* 高度
* 单独的接收机通路使得在zui高1GHz频率范围内获得不可比拟的动态范围
面向未来
* 高达500MHz解调带宽
多载波或者宽带应用的功率放大器为了提率而进行的线性化工作或者通信系统自身占用带宽的增加，使得对于分析带宽的需求持续增加，面对挑战，R&S?FSW提供高达500MHz的分析带宽满足测试需求。