高温老化房在电能表行业的应用

电能表国际标准和国家标准：
国家标准对应的国际标准
GB/T 17215.211-2006
交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分：测量设备 IEC 62052-11:2003
GB/T 17215.311-2008
交流电测量设备 特殊要求 第11部分：机电式有功电能表（0.5、1和2级） IEC62053-11:2003
GB/T 17215.321-2008
交流电测量设备 特殊要求 第21部分：静止式有功电能表（1级和2级） IEC62053-21:2003
GB/T 17215.322-2008
交流电测量设备 特殊要求 第22部分：静止式有功电能表（0.2S级和0.5S级） IEC62053-22:2003
GB/T 17215.323-2008
交流电测量设备 特殊要求 第23部分：静止式无功电能表（2级和3级） IEC62053-23:2003
GB/T 17215.301-2007
多功能电能表 特殊要求 /
GB/T 15284-2002
多费率电能表 特殊要求 /
GB/T 18460.3 -2001
IC卡预付费售电系统 第3部分：预付费电度表 /
电能表功能测试：
开关外置
外置开关控制方式
合闸方式
保电/保电解除
保电状态下不能拉闸；
处于拉闸状态的电能表，接收到保电命令，应允许合闸。
合闸后保电解除？
保电状态与报警状态相对独立。
继电器状态检测
检测电压（直接接入式电能表脱钩校验）
检测电流（合闸失败检测）
电能表高温老化房主要功能：为了达到满意的合格率，几乎所有产品在出厂前都要先藉由电能表老化。制造商如何才能够在不缩减老化时间的条
件下提高其效率？本文介绍在老化过程中进行功能测试的新方案，以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问
题。
电能表高温老化房在半导体业界，器件的老化问题一直存在各种争论。像其它产品一样，半导体随时可能因为各种原因而出现
故障，电能表老化就是藉由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。如果不藉由
老化，很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。
在开始使用后的几小时到几天之内出现的缺陷(取决于制造制程的成熟程度和器件总体结构)称为早期故障，
电能表老化之后的器件基本上要求100%由这段时间造成的故障。准确确定老化时间的方法是参照以前收集到
的老化故障及故障分析统计数据。