微电测试数字源表国产电流源
微电测试数字源表国产电流源认准普赛斯仪表,普赛斯仪表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表,相比于传统S系列源表,准确度提升至±0.03%,直流电流升级至3A,可为半导体行业提供更加精准、稳定的测试方案;详询一八一四零六六三四七六;
S型数字源表应用优势:
1、多功能测量需求下的广泛的适应性,电压高达300V,电流低至30pA;
2、实现“源”的输出和“表”的测量同步进行,提高测试效率。
3、具备对测试器件的保护功能,可进行自我限制,避免因过充而造成的对测试器件的损害;
的电压电流限制功能,为器件提供完善的保护功能,避免器件损坏。
4、触屏图形化操作,使用简单。开放式平台,可根据实际应用的需求而针对性的开发软件。
产品特点
5寸800*480触摸显示屏,全图形化操作
内置强大的功能软件,加速用户完成测试,如LIV、PIV
源及测量的准确度为0.03%
四象限工作(源和肼),源及测量范围:高至300V,低至3pA
丰富的扫描模式,支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
支持USB存储,一键导出测试报告
支持多种通讯方式,RS-232、GPIB及以太网
技术参数
Z大输出功率:30W,4象限源或肼模式;
源限度-电压源:±10V(≤3A量程),±30V(≤1A量程),±300V(≤100mA量程);
源限度-电流源:±3A(≤10V量程),±1A(≤30V量程),±100mA(≤300V量程);
过量程: 105%量程,源和测量;
稳定负载电容:<22nF;
宽带噪声(20MHz):2mV RMS(典型值),<20mV Vp-p(典型值);
线缆保护电压:输出阻抗30KΩ,输出电压偏移<80mV;
大采样速率:S系列1000 S/s,SXXB系列32000S/s;
触发:支持IO触发输入及输出,触发极性可配置;
输出接口:前后面板香蕉头插座输出,同一时刻只能用前或者后面板接口;
通信口:RS-232、GPIB、以太网;
电源:AC 100~240V 50/60Hz;
工作环境:25±10℃;
尺寸:106mm高 × 255mm宽 ×425mm长;
重量:5KG
质保期:1年
S系列源表应用
分立器件特性测试:电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件;
能量与效率特性测试:LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器;
传感器特性测试:电阻率、霍尔效应等;
有机材料特性测试:电子墨水、印刷电子技术等;
纳米材料特性测试:石墨烯、纳米线等;
激光器特性测试:窄脉冲LIV测试系统;
功率器件:静态测试系统;
电流传感器:动静态参数测试系统;
S型数字源表应用优势:
1、多功能测量需求下的广泛的适应性,电压高达300V,电流低至30pA;
2、实现“源”的输出和“表”的测量同步进行,提高测试效率。
3、具备对测试器件的保护功能,可进行自我限制,避免因过充而造成的对测试器件的损害;
的电压电流限制功能,为器件提供完善的保护功能,避免器件损坏。
4、触屏图形化操作,使用简单。开放式平台,可根据实际应用的需求而针对性的开发软件。
产品特点
5寸800*480触摸显示屏,全图形化操作
内置强大的功能软件,加速用户完成测试,如LIV、PIV
源及测量的准确度为0.03%
四象限工作(源和肼),源及测量范围:高至300V,低至3pA
丰富的扫描模式,支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
支持USB存储,一键导出测试报告
支持多种通讯方式,RS-232、GPIB及以太网
技术参数
Z大输出功率:30W,4象限源或肼模式;
源限度-电压源:±10V(≤3A量程),±30V(≤1A量程),±300V(≤100mA量程);
源限度-电流源:±3A(≤10V量程),±1A(≤30V量程),±100mA(≤300V量程);
过量程: 105%量程,源和测量;
稳定负载电容:<22nF;
宽带噪声(20MHz):2mV RMS(典型值),<20mV Vp-p(典型值);
线缆保护电压:输出阻抗30KΩ,输出电压偏移<80mV;
大采样速率:S系列1000 S/s,SXXB系列32000S/s;
触发:支持IO触发输入及输出,触发极性可配置;
输出接口:前后面板香蕉头插座输出,同一时刻只能用前或者后面板接口;
通信口:RS-232、GPIB、以太网;
电源:AC 100~240V 50/60Hz;
工作环境:25±10℃;
尺寸:106mm高 × 255mm宽 ×425mm长;
重量:5KG
质保期:1年
S系列源表应用
分立器件特性测试:电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件;
能量与效率特性测试:LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器;
传感器特性测试:电阻率、霍尔效应等;
有机材料特性测试:电子墨水、印刷电子技术等;
纳米材料特性测试:石墨烯、纳米线等;
激光器特性测试:窄脉冲LIV测试系统;
功率器件:静态测试系统;
电流传感器:动静态参数测试系统;