功率半导体器件测试仪静态参数分析仪

功率半导体器件测试仪静态参数分析仪特点和优势：

单台Z大3500V输出；

单台Z大1000A输出，可并联后Z大6000A；

15us的超快电流上升沿；

同步测量；

国标全指标的自动化测试；详询一八一四零六六三四七六

测试项目
集电极-发射极电压Vces，集电极-发射极击穿电压V(br)ces、集电极-发射极饱和电压Vcesat

集电极截止电流Ices、栅极漏电流Iges

栅极-发射极电压Vges、栅极-发射极阈值电压Vge(th)

输入电容、输出电容、反向传输电容  

续流二极管压降Vf

I-V特性曲线扫描，C-V特性曲线扫描等

半导体分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应；通常半导体分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，过程既复杂又耗时，还占用过多测试台的空间。实施特性参数分析的佳工具之一功率半导体器件测试仪静态参数分析仪，详询一八一四零六六三四七六；普赛斯分立器件静态测试系统集多种测量和分析功能一体，可精准测量功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半导体等）的静态参数，电压可高达10KV,电流可高达6KA。该系统可测量不同封装类型的功率器件的静态参数，具有高电压和大电流特性，uΩ级电阻，pA级电流精准测量等特点。支持高压模式下测量功率器件结电容，如输入电容，输出电容、反向传输电容等。功率器件静态参数测试系统采用模块化设计，方便用户添加或升级测量模块，适应测量功率器件不断变化的需求。