现货出美国FEI赛默飞扫描电镜
1. FEI Helios400/450：FEI Helios NanoLab 400S是一款能够进行高级成像和样品制备的双束系统，它结合了场发射扫描电子显微镜和聚焦离子束。该系统适用于固体材料的多种先进成像和制备技术，包括无需破真空的TEM样品制备（正常和背面铣削）、STEM成像在薄TEM样品上、针制备用于断层扫描、平面视图制备以及在加热芯片上制备用于TEM退火实验的薄片。
2. FEI FEI Strata400：FEI Strata 400是一款DualBeam™系统，用于高分辨率、高对比度成像和样品制备。它集成了场发射扫描电子显微镜柱和聚焦离子束柱，具备完整的原位样品制备能力，能够制备TEM样品而不破真空。适用于有机、无机和新型材料，这些材料不适合传统的SEM和TEM样品制备方法。
3. Quanta600F：FEI Quanta 600 FEG是一款场发射环境扫描电子显微镜，具备高真空模式、低真空模式和环境真空模式下的分辨率，以及高加速电压和大束流等特性。它主要用于固体样品表面形貌分析以及半定量元素分析。
4. FEI FIB200：FEI FIB 200-M使用Magnum离子柱，该离子柱的铣削能力是早期预透镜FIB柱的两倍。这款FIB用于电路编辑（正面和背面）、缺陷和失效分析、TEM薄片制备、纳米制造、纳米原型制作和MEMS。
淮安富汇电子有限公司提供的这些扫描电镜现货，覆盖了从高分辨率成像到样品制备的多种应用需求，适用于材料科学、纳米技术等领域的研究和开发。如果您需要更详细的产品规格或购买信息，可以直接联系淮安富汇电子有限公司。
2. FEI FEI Strata400：FEI Strata 400是一款DualBeam™系统，用于高分辨率、高对比度成像和样品制备。它集成了场发射扫描电子显微镜柱和聚焦离子束柱，具备完整的原位样品制备能力，能够制备TEM样品而不破真空。适用于有机、无机和新型材料，这些材料不适合传统的SEM和TEM样品制备方法。
3. Quanta600F：FEI Quanta 600 FEG是一款场发射环境扫描电子显微镜，具备高真空模式、低真空模式和环境真空模式下的分辨率，以及高加速电压和大束流等特性。它主要用于固体样品表面形貌分析以及半定量元素分析。
4. FEI FIB200：FEI FIB 200-M使用Magnum离子柱，该离子柱的铣削能力是早期预透镜FIB柱的两倍。这款FIB用于电路编辑（正面和背面）、缺陷和失效分析、TEM薄片制备、纳米制造、纳米原型制作和MEMS。
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